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描述：天瑞X射線熒光光譜儀EDX3000PLUS在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨(dú)到。采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準(zhǔn)確無誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量，測試結(jié)果符合國標(biāo)GB/T 18043-2000要求。EDX 3000 PLUS閃耀的亮點(diǎn)在于高準(zhǔn)確度、高分辨率、更清晰的攝像頭、一鍵式智能操作，一切讓貴金屬檢測如此簡單。
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商更新時間
2025-05-18訪問量
1724| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,地礦,電子/電池,包裝/造紙/印刷,紡織/印染 |
|---|
天瑞X射線熒光光譜儀EDX3000PLUS性能優(yōu)勢：
1、高分辨率
采用SDD硅漂移探測器 ，分辨率為139±5ev ，而常規(guī)的Si-PIN探測器，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
2、高準(zhǔn)確度，性能優(yōu)
使用25mm2大面積鈹窗探測器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù)，提高分析速度，總體提高系統(tǒng)處理能力，計(jì)數(shù)率大可達(dá)8萬，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
3、清晰攝像頭，準(zhǔn)確定位
采用新型工業(yè)級相機(jī)，樣品圖像更加清晰，輕松實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)定位。
4、小準(zhǔn)直器，輕松實(shí)現(xiàn)精小部位測試
提供多種準(zhǔn)直器，直徑小達(dá)0.2mm，可輕松實(shí)現(xiàn)精小部位的準(zhǔn)確測試，同時可根據(jù)測試需求電動切換準(zhǔn)直器，使測量更加輕松更加準(zhǔn)確。
5、一鍵式智能式操作，省去選曲線煩惱
FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線，操作一步到位。
天瑞X射線熒光光譜儀EDX3000PLUS技術(shù)參數(shù)：
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達(dá)ppm級
分析含量一般為ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：139±5eV
儀器配置：
移動樣品平臺
SDD探測器
數(shù)字多道分析系統(tǒng)
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
質(zhì)量：45Kg
應(yīng)用領(lǐng)域：
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
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